Asymmetrische of publieke-sleutelcryptografie kan een zware wissel trekken op de processor, zowel op het vlak van berekeningen als qua geheugenverkeer. Barco Silex legt uit hoe zijn...
Het waren pijnlijke jaren, maar het gaat weer de goede kant op met zijn bedrijf, vertelt CTO René Penning de Vries van NXP. Een gesprek...
Beveiliging is een onderwerp van extremen. Dat is precies wat het spannend maakt. Versleutelen is een kant van beveiliging die het meest tot de verbeelding spreekt. Ik herinner me het geheimschrift...
3 april 2009
Keithley Instruments heeft de software en firmware van zijn Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System geüpdatet. Keithley Test Environment Interactive (KTEI) versie 7.2 heeft negen nieuwe testbibliotheken voor zonnecellen, een uitgebreid frequentiebereik voor capaciteit-voltagemetingen en ondersteuning voor het negenslots instrumentchassis. De update is gratis voor bestaande Model 4200-SCS-gebruikers.
De bibliotheken in KTEI 7.2 breiden de mogelijkheden van het systeem uit voor I-V-, C-V- en weerstandsmetingen aan zonnecellen. De software-update ondersteunt ook de nieuwe testtechniek Drive-Level Capacitance Profiling (DLCP), die eerdere oplossingen niet nauwkeurig konden uitvoeren. Het frequentiedomein loopt nu van 1 kHz tot 10 MHz. Eerder was de ondergrens nog 10 kHz. Die extra frequenties maken het mogelijk om platte lcd-schermen en Oled’s te testen.
Links:
© Bits & Chips | Deze pagina op internet: http://www.bits-chips.nl/nc/nieuws/bekijk/artikel/keithley-verbetert-zonneceltester.html
