Arm is energiezuinig en tegenwoordig ook krachtig genoeg om de concurrentie met X86 aan te kunnen in een tradtioneel Intel-domein als embedded computers. Een rondgang langs leveranciers leert echter...
Nu politici en beleidsmakers hun aandacht hebben gericht op het oplossen van de crisis en de naderende megabezuinigingen schuift het...
Als het van de initiatiefnemers van het Greentouch-consortium afhangt (www.greentouch.org), zullen we binnen tien jaar duizend keer energie-efficiënter kunnen ‘surfen’. Een mooie maar noodzakelijke...
17 april 2009
Keithley Instruments heeft een set kabels ontworpen die overweg kan met DC I-V-, C-V- en gepulste I-V-signalen. Volgens de fabrikant is het de eerste oplossing die geschikt is voor alle drie de metingen. De kabelset sluit onder meer aan op het Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System van Keithley. In combinatie met een Cascade Microtech- (Model 4210-MMPC-C) of een Suss Microtec-prober (Model 4210-MMPC-S) zijn de kabels te gebruiken om halfgeleiders te analyseren. De drieassige kabelkits zijn handig in testtoepassingen waarbij vaak moet worden geswitcht tussen verschillende meettypes. Met Keithleys setje is het niet meer nodig om opnieuw te kabelen, waardoor de gebruikelijke fouten hierbij tot het verleden behoren.
De verschillende meettypes stellen andere eisen aan de bekabeling. I-V-metingen bij lage stroom vragen om afscherming. C-V-metingen maken typisch gebruik van vier coaxkabels waarbij de buitenste lagen onderling zijn verbonden om de karakteristieke impedantie te controleren. Gepulste metingen vereisen dan weer een hoge bandbreedte. Daarvoor is het nodig dat de kabelimpedantie overeenkomt met de bronimpedantie om reflecties te voorkomen. Keithley heeft aan al deze requirements gedacht bij de ontwikkeling van zijn nieuwe kabelset.
Links:
© Bits & Chips | Deze pagina op internet: http://www.bits-chips.nl/nc/nieuws/bekijk/artikel/keithley-meet-i-v-c-v-en-gepulst-met-een-kabelset.html
