Asymmetrische of publieke-sleutelcryptografie kan een zware wissel trekken op de processor, zowel op het vlak van berekeningen als qua geheugenverkeer. Barco Silex legt uit hoe zijn...
Het waren pijnlijke jaren, maar het gaat weer de goede kant op met zijn bedrijf, vertelt CTO René Penning de Vries van NXP. Een gesprek...
Beveiliging is een onderwerp van extremen. Dat is precies wat het spannend maakt. Versleutelen is een kant van beveiliging die het meest tot de verbeelding spreekt. Ik herinner me het geheimschrift...
17 april 2009
Keithley Instruments heeft een set kabels ontworpen die overweg kan met DC I-V-, C-V- en gepulste I-V-signalen. Volgens de fabrikant is het de eerste oplossing die geschikt is voor alle drie de metingen. De kabelset sluit onder meer aan op het Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System van Keithley. In combinatie met een Cascade Microtech- (Model 4210-MMPC-C) of een Suss Microtec-prober (Model 4210-MMPC-S) zijn de kabels te gebruiken om halfgeleiders te analyseren. De drieassige kabelkits zijn handig in testtoepassingen waarbij vaak moet worden geswitcht tussen verschillende meettypes. Met Keithleys setje is het niet meer nodig om opnieuw te kabelen, waardoor de gebruikelijke fouten hierbij tot het verleden behoren.
De verschillende meettypes stellen andere eisen aan de bekabeling. I-V-metingen bij lage stroom vragen om afscherming. C-V-metingen maken typisch gebruik van vier coaxkabels waarbij de buitenste lagen onderling zijn verbonden om de karakteristieke impedantie te controleren. Gepulste metingen vereisen dan weer een hoge bandbreedte. Daarvoor is het nodig dat de kabelimpedantie overeenkomt met de bronimpedantie om reflecties te voorkomen. Keithley heeft aan al deze requirements gedacht bij de ontwikkeling van zijn nieuwe kabelset.
Links:
© Bits & Chips | Deze pagina op internet: http://www.bits-chips.nl/nc/nieuws/bekijk/artikel/keithley-meet-i-v-c-v-en-gepulst-met-een-kabelset.html
